薄膜薄片厚度測定儀(yi) 適用於(yu) ：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精確測量。注：產(chan) 品技術規格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改權與(yu) 最終解釋權！

高精度薄膜厚度測試儀(yi) 適用於(yu) ：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精確測量。注：產(chan) 品技術規格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改權與(yu) 最終解釋權！

接觸式原理厚度測試儀(yi) 適用於(yu) ：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精確測量。注：產(chan) 品技術規格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改權與(yu) 最終解釋權！

GB6672機械接觸式測厚儀(yi) 適用於(yu) ：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精確測量。注：產(chan) 品技術規格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改權與(yu) 最終解釋權！

薄膜測厚儀(yi) 適用於(yu) ：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精確測量。注：產(chan) 品技術規格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改權與(yu) 最終解釋權！